新型微系统的辐射效应与抗辐射加固技术

Abstract

本文介绍了微系统的发展历程、现状和趋势, 着重介绍了新型微系统: 系统级芯片和系统级封装, 分析了新型微系统面临的科学问题, 总结了新型微系统辐射效应研究现状, 给出了新型微系统在辐射环境中应用需要研究的问题: 辐射效应规律和机理、辐照效应实验测试方法、抗辐射加固技术, 期望加大财力、物力和人力的投入力度, 通过重大项目研究解决微系统在辐射环境应用中遇到的关键科学问题, 提高国产微系统的可靠性, 促进和保障国产微系统的国防应用.

References